Il sistema ETNA riassume oltre 30 anni di esperienza ed è la piattaforma ideale per effettuare test di R&D, Q&R e produzione per le principali famiglie di dispositivi, tra cui SiC e GaN, Moduli di Potenza, SoC, MEMS e Memorie.
In particolare, l’ETNA VBTS-M è il nostro sistema di Burn-in e Affidabilità per SoC, dispositivi ad Alta Potenza, Analogici, Digitali e a Segnale Misto, Microprocessori, MEMS e Memorie.
Si tratta della scelta giusta per effettuare test HTOL, PTC, IOL e LTOL.
Principali caratteristiche
Piattaforma di test riprogrammabile con microprocessori e firmware FPGA
- Riconfigurazione software della stessa piattaforma hardware come tester digitale, a segnale misto e di memorie
- Sviluppo continuo di nuove funzionalità e aggiornamenti, facilmente implementabili tramite il rilascio di un firmware
- Modularità avanzata per una facile configurazione del sistema e una migliore manutenibilità
Capacità di misurazione delle perdite
- Drift monitoring per prevedere i guasti dei dispositivi
- Ottimizzazione della curva di apprendimento tecnologico
Piattaforma termica all’avanguardia
- Conforme all’Industria 4.0
- Soluzione green
- Predisposizione per l’automazione
- Configurazione caldo-freddo per attività di caratterizzazione dell’affidabilità dei dispositivi
Strumento software per l’analisi dei dati
- Monitoraggio in tempo reale che consente una strategia di Burn-in adattiva
- Analisi post-elaborazione per feedback a R&D, qualità e affidabilità del prodotto, produzione
Principali caratteristiche della piattaforma di test
- Totale segnali per BIB: fino a 336 (368 per la piattaforma di test dedicata alle memorie)
- Numero di linee I/O bidirezionali: fino a 256
- Numero di linee di stimolazione: fino a 48
- Numero di linee di ingresso aggiuntive: fino a 32
- Numero di linee di espansione per schede opzionali: fino a 32
- Numero totale di pin connettore BIB: 480 edge finger + 44 power
- Numero di unità di alimentazione DUT: fino a 6
- Potenza totale massima per BIB: 600 W
- Corrente totale massima per BIB: 104 A
- Numero di VREF per riferimenti di tensione DUT: 4
Opzioni aggiuntive
- Scheda generatrice di forme d’onda analogiche, che aggiunge 4 canali analogici differenziali.
- Scheda di monitoraggio analogico, che sostituisce 128 I/O con 96 linee di ingresso analogico.
- Opzione High Power, che aggiunge 16 alimentatori ad alta potenza dedicati ai DUT, alimentando ogni BIB con più di 2 kW e 640 A.
- Opzione DUT TEMP MON per il monitoraggio della temperatura di singoli dispositivi, completamente integrata nel sistema EDA.
- Opzione Single-Device Temperature Control, completamente integrata nel sistema EDA.
- Opzione per la misurazione parametrica, che aggiunge la funzionalità PMU ad ogni linea e alimentatore.
- Opzione avanzata per test di qualità e affidabilità, che include la generazione di forme d’onda arbitrarie, il monitoraggio analogico avanzato e il controllo dell’alimentazione esterna da 5 kW con 24 linee EXT-PSU per il monitoraggio indipendente di tensione e corrente.
- Opzione avanzata per architettura Power/Load, che aggiunge un alimentatore esterno da 5/10 kW per testare dispositivi che richiedono un carico esterno fisso o programmabile.
Principali caratteristiche della piattaforma termica
- Numero di camere per sistema: 2
- Slot BIB: 24 (12 per ciascuna camera)
- Intervallo di temperatura massimo: da -55 °C a 200 °C
- Inserimento/estrazione BIB: automatico, a livello di slot
- Apertura porte camera: automatica. Porte scorrevoli con guarnizione gonfiabile
- Risoluzione impostazione temperatura: 0,1 °C
- Accuratezza impostazione temperatura: ±1 °C
- Uniformità della temperatura: ±3 °C (valida nell’intervallo [-45; 150] °C, con massima dissipazione di calore e 12 BIB caricate. Punti di misurazione a 100 mm di distanza dalla parete della camera e a 10 mm dai dispositivi sotto test)
- Dissipazione massima a 150 °C per camera: 5 kW / 7,5 kW
- Dissipazione massima a -45 °C per camera: 2,5 kW / 3,5 kW
- Condensa: acqua
- Opzione gestione azoto: disponibile
Principali caratteristiche della piattaforma software
La piattaforma software del sistema offre una serie completa di strumenti per lo sviluppo dei test (pacchetto SW Development), l’esecuzione in produzione e la creazione di report (pacchetto SW Execution).
Grazie alla sua ricca interfaccia grafica, il software dell’ETNA VBTS-M offre gli strumenti di ingegneria necessari per caratterizzare i dispositivi, nonché per sviluppare e correggere i programmi di test in modo rapido ed efficiente.
Pattern Editor
- Nuovo IDE per visualizzazione e modifica pattern basato su vettori della piattaforma EDA
- Facile generazione di programmi di test
Test Plan Editor
- Funzionalità per snellire le attività di ingegneria
- Interfaccia operatore intuitiva
Data Viewer
- Potenti funzionalità di reporting e analisi dei dati, che includono uno specifico formato di dati di Burn-in e un output STDF
- Accesso in tempo reale alle fasi del flusso di test, ai parametri e alle misurazioni
- Report dettagliato sui dati analizzati
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