Il sistema ETNA riassume oltre 30 anni di esperienza ed è la piattaforma ideale per effettuare test di R&D, Q&R e produzione per le principali famiglie di dispositivi, tra cui SiC e GaN, Moduli di Potenza, SoC, MEMS e Memorie.
La soluzione ETNA Dynamic per prove DGS/DRB consente al cliente di valutare l’affidabilità e la robustezza del gate in condizioni di stress dinamico e in conformità con lo standard AQG324. Questi test sono fondamentali perché i dispositivi SiC sono spesso utilizzati in applicazioni ad alta potenza e alta temperatura, dove possono essere soggetti a rapidi cambiamenti di tensione e correnti elevate.
Principali caratteristiche
Piattaforma di test versatile che garantisce la compatibilità con i più importanti standard di test di affidabilità
- Compatibilità con lo standard AQG324 per dispositivi SiC
- Stessa piattaforma sia per stress DGS che DRB
- Misurazione Vth e RDSon (drift) “in oven”
- Scalabilità per aggiornare o espandere il sistema per gestire più dispositivi o includere nuove funzionalità
Piattaforma termica all’avanguardia
- Conforme all’Industria 4.0
- Soluzione green
- Predisposta per l’automazione
- Massima flessibilità, che consente di combinare diverse configurazioni di test (ad esempio, statico sulla camera 1, dinamico sulla numero 2)
Capacità di misurazione delle perdite
- Drift monitoring per prevedere i guasti dei dispositivi
- Ottimizzazione della curva di apprendimento tecnologico
Strumento software per l’analisi dei dati
- Capacità estesa di data logging
- Monitoraggio in tempo reale che consente una strategia di Burn-in adattiva
- Analisi post-elaborazione per feedback a R&D, qualità e affidabilità del prodotto, produzione
Principali caratteristiche della piattaforma di test
- Numero di zone elettriche per camera: fino a 6
- DUT/Slot (capacità di test per ogni camera): fino a 40 (fino a 240)
- VDS: fino a 1500V
- VGS: (- 15V → 0) / (0 → 35V). Delta configurabile a 35V
- Duty Cycle: 10-90% (conf)
- dV/dt – DGS: 1V/ns
- dV/dt – DRB: 50V/ns
- Frequenza – DGS: 15kHz to 1MHz
- Frequenza – DRB: 15kHz to 50KHz
- Configurazione di commutazione – DGS: Driver di Gate Individuale
- Configurazione di commutazione – DRB: Modalità Attiva/Passiva del DUT
- Misurazione parametrica DUT: Vth, RDSon drift, Idss, Igss (in situ)
- Condizioni di carico: Carico aperto / IL << 0.5A (Attivo) / IL ~0A (Passivo)
Principali caratteristiche della piattaforma termica
- Numero di camere per sistema: 2
- Slot BIB: 12 (6 per ciascuna camera)
- Intervallo di temperatura massimo: da -55°C a 200°C
- Inserimento/estrazione BIB: automatico, a livello di slot
- Apertura porte camera: automatica. Porte scorrevoli con guarnizione gonfiabile
- Risoluzione impostazione temperatura: 0,1°C
- Accuratezza impostazione temperatura: ±1°C
- Uniformità della temperatura: ±3°C (valida nell’intervallo [-45; 150]°C, con massima dissipazione di calore e 12 BIB caricate. Punti di misurazione a 100 mm di distanza dalla parete della camera e a 10 mm dai dispositivi sotto test)
- Dissipazione massima a 150 °C per camera: 5KW /7,5 KW
- Dissipazione massima a -45 °C per camera: 2,5KW / 3,5 KW
- Gradiente medio di aumento della temperatura (-40 to 150°C): >10,0°C/min
- Gradiente medio di abbassamento della temperatura (150 to -40°C): >6.0°C/min
- Controllo della temperatura dei DUT: controllo indipendente per singolo DUT (opzionale)
- Condensa: acqua
- Opzione gestione azoto: disponibile
Principali caratteristiche della piattaforma software
La piattaforma software del sistema offre una serie completa di strumenti per lo sviluppo dei test (pacchetto SW Development), l’esecuzione in produzione e la creazione di report (pacchetto SW Execution).
Grazie alla sua ricca interfaccia grafica, il software dell’ETNA Dynamic per DGS/DRB offre gli strumenti di ingegneria necessari per caratterizzare i dispositivi, nonché per sviluppare e correggere i programmi di test in modo rapido ed efficiente.
Pattern Editor
- Nuovo IDE per visualizzazione e modifica pattern basato su vettori della piattaforma EDA
- Facile generazione di programmi di test
Test Plan Editor
- Funzionalità per snellire le attività di ingegneria
- Interfaccia operatore intuitiva
Data Viewer
- Potenti funzionalità di reporting e analisi dei dati, che includono uno specifico formato di dati di Burn-in e un output STDF
- Accesso in tempo reale alle fasi del flusso di test, ai parametri e alle misurazioni
- Report dettagliato sui dati analizzati
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