Il sistema ETNA riassume oltre 30 anni di esperienza ed è la piattaforma ideale per effettuare test di R&D, Q&R e produzione per le principali famiglie di dispositivi, tra cui SiC e GaN, Moduli di Potenza, SoC, MEMS e Memorie.
In particolare, la soluzione ETNA Dynamic DHTOL consente al Cliente di accelerare la valutazione dell’affidabilità dei dispositivi GaN, favorendone l’introduzione in settori tecnologicamente avanzati: dall’Automotive all’Industriale, passando per il TLC e l’Aerospaziale.
Principali caratteristiche
Piattaforma di test versatile che garantisce la compatibilità con i più importanti standard di test di Affidabilità
- Compatibilità con gli standard JEP173 e JEP180 per DHTOL su dispositivi GaN
- Compatibilità con lo standard di test AECQ100 per HTOL e lo standard di test di affidabilità PTC
Piattaforma termica all’avanguardia
- Conforme all’Industria 4.0
- Soluzione green
- Predisposta per l’automazione
- Massima flessibilità, che consente di combinare diverse configurazioni di test (ad esempio, statico sulla camera 1, dinamico sulla numero 2)
Rack di carico esterno raffreddato a liquido
- Gestione di test ad altissima potenza: fino a 8 kW di dissipazione
Strumento software per l’analisi dei dati
- Capacità estesa di data logging
- Monitoraggio in tempo reale che consente una strategia di Burn-in adattiva
- Analisi post-elaborazione per feedback a R&D, qualità e affidabilità del prodotto, produzione
Principali caratteristiche della piattaforma di test
- Numero di zone elettriche per camera: fino a 6
- DUT/slot (capacità di test per ogni camera): fino a 20 (fino a 120)
- Drain PSU Range: [da 0 V a 1500 V] (fino a 200 A/slot)
- Gate PSU Range: (- 15 V → 0) / (0 → 35 V). Delta configurabile a 35 V
- Canali di carico massimi per slot (corrente di carico massima per slot): 20 (200 A)
- Frequenza massima: 12,5 MHz
- Skew di temporizzazione digitale: 2 ns
- Canali di carico (corrente di carico per canale): 20 (20 A)
- Dissipazione di carico/slot: fino a 8 kW
- Misurazione in stato OFF del DUT: IGSS, IDSS
- Misurazione parametrica DUT: Ron, Vth, Vsd
- Misurazione dinamica RDSon: sì, durante lo stress
- Metodologia Hard-Switching: Buck-Boost, Multi-Pulse, Soft/Hard Mixing
Principali specifiche della sezione digitale
- Numero di driver per generatore di pattern: 1
- Numero di linee di segnale: 336
- Numero di canali di stimolo/Numero di canali di test I/O: 48/288 (256 in tempo reale)
- Alimentatori – PSU per DUT: fino a 6
- Alimentatori – Potenza massima per BIB/Corrente massima per BIB: 600 W/104 A (4×20 A + 2×12 A)
- Dimensione RAM vettoriale: 1 GB
Principali caratteristiche della piattaforma termica
- Numero di camere per sistema: 2
- Slot BIB: 12 (6 per ciascuna camera)
- Intervallo di temperatura massimo: da -55 °C a 200 °C
- Inserimento/estrazione BIB: automatico, a livello di slot
- Apertura porte camera: automatica. Porte scorrevoli con guarnizione gonfiabile
- Risoluzione impostazione temperatura: 0,1 °C
- Accuratezza impostazione temperatura: ±1 °C
- Uniformità della temperatura: ±3 °C (valida nell’intervallo [-45; 150] °C, con massima dissipazione di calore e 12 schede di Burn-in caricate. Punti di misurazione a 100 mm di distanza dalla parete della camera e a 10 mm dai dispositivi sotto test)
- Dissipazione massima a 150 °C per camera: 5 kW / 7,5 kW
- Dissipazione massima a -45 °C per camera: 2,5 kW / 3,5 kW
- Controllo della temperatura dei DUT: controllo indipendente per singolo DUT (opzionale)
- Condensa: acqua
- Opzione gestione azoto: disponibile
Principali caratteristiche della piattaforma software
La piattaforma software del sistema offre una serie completa di strumenti per lo sviluppo dei test (pacchetto SW Development), l’esecuzione in produzione e la creazione di report (pacchetto SW Execution).
Grazie alla sua ricca interfaccia grafica, il software dell’ETNA Dynamic per DHTOL offre gli strumenti di ingegneria necessari per caratterizzare i dispositivi, nonché per sviluppare e correggere i programmi di test in modo rapido ed efficiente.
Pattern Editor
- Nuovo IDE per visualizzazione e modifica pattern basato su vettori della piattaforma EDA
- Facile generazione di programmi di test
Test Plan Editor
- Funzionalità per snellire le attività di ingegneria
- Interfaccia operatore intuitiva
Data Viewer
- Potenti funzionalità di reporting e analisi dei dati, che includono uno specifico formato di dati di Burn-in e un output STDF
- Accesso in tempo reale alle fasi del flusso di test, ai parametri e alle misurazioni
- Report dettagliato sui dati analizzati
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